N-kanallı MOS tranzistörlerde taban akımlarının tranzistörün güvenliğine etkisi

KUNTMAN A., KAÇAR F., Kuntman H., ÖZÇELEP Y.

Elektrik-Elektronik-Bilgisayar Müh. 10. Ulusal Kongresi, İstanbul, Türkiye, ss.346-349, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: İstanbul
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.346-349
  • İstanbul Üniversitesi-Cerrahpaşa Adresli: Evet