An Application of Weibull Distribution to Hot Carrier Degradation in Threshold Voltage and Drain Current of MOS Transistors

---

ardalı a., KUNTMAN A., KAÇAR F., Kuntman H.

International Conference on Electrical and Electronics Engineering, Türkiye, ss.86-90, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Sayfa Sayıları: ss.86-90
• İstanbul Üniversitesi-Cerrahpaşa Adresli: Evet