Statistical Investigation Of Symmetrical CMOS OTA Degradation

---

ÖZÇELEP Y., KUNTMAN A., KUNTMAN H.

Istanbul University Journal of Electrical Electronics Engineering (IU-JEEE), cilt.8, sa.1, ss.549-555, 2008 (Hakemli Dergi)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 8 Sayı: 1
• Basım Tarihi: 2008
• Dergi Adı: Istanbul University Journal of Electrical Electronics Engineering (IU-JEEE)
• Sayfa Sayıları: ss.549-555
• İstanbul Üniversitesi-Cerrahpaşa Adresli: Hayır