Statistical model of hot-carrier degradation and lifetime prediction for P-MOS transistors

Kaçar F., Kuntman A., Kuntman H.

Turkish Journal of Electrical Engineering and Computer Sciences, cilt.14, ss.417-428, 2006 (SCI-Expanded, Scopus, TRDizin)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 14
  • Basım Tarihi: 2006
  • Dergi Adı: Turkish Journal of Electrical Engineering and Computer Sciences
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus, TR DİZİN (ULAKBİM)
  • Sayfa Sayıları: ss.417-428
  • İstanbul Üniversitesi-Cerrahpaşa Adresli: Evet