Mosfet’lerdeki Sıcak Taşıyıcı Etkisinin Weibull Dağılımı İle İncelenmesi
Elektrik-Elektronik-Bilgisayar Müh. 9. Ulusal Kongresi, Kocaeli, Türkiye, ss.359-362, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Basıldığı Şehir: Kocaeli
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Sayfa Sayıları: ss.359-362
- İstanbul Üniversitesi-Cerrahpaşa Adresli: Evet