High voltage stress effects on power MOSFETs in switching DC-DC converters
IEEE International Conference on Advanced Power System Automation and Protection (APAP), Çin, 1 - 04 Ekim 2012, cilt.2, ss.1278-1282, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Cilt numarası: 2
- Basıldığı Ülke: Çin
- Sayfa Sayıları: ss.1278-1282
- İstanbul Üniversitesi-Cerrahpaşa Adresli: Hayır